環(huán)球儀器的先進(jìn)工藝實(shí)驗(yàn)室(APL)成立于1987年，位于美國(guó)賓漢姆頓的總部，工作人員全是博士/碩士級(jí)的科研人員，還配備最先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備，提供由原型制造、失效分析、優(yōu)化工序、材料評(píng)估等服務(wù)，協(xié)助廠家應(yīng)對(duì)生產(chǎn)挑戰(zhàn)。
APL如何進(jìn)行專業(yè)的失效分析？
APL投資在各項(xiàng)專業(yè)和精準(zhǔn)的分析工具上，并擁有各種專家知識(shí)，范圍涵蓋每一種封裝和組裝技術(shù)。APL已針對(duì)所有元件系列，進(jìn)行關(guān)鍵的生產(chǎn)工序研究。此外，APL的專家積極參與客戶的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和設(shè)計(jì)，從而累積豐富的生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)，有助進(jìn)行失效分析。
失效分析包括什么服務(wù)呢？
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追尋和糾正錯(cuò)誤根源
提升生產(chǎn)良率
改進(jìn)車間可靠性
提供證據(jù)指正不合格產(chǎn)品的責(zé)任方，或向材料供應(yīng)商退貨
實(shí)現(xiàn)更快的投資回報(bào)收益
元件層間的互連/電路板失效分析
失效原因的微觀分析
染料滲透、橫切面、剪切試驗(yàn)
找尋焊料破裂、和接面間失效模式
初始和長(zhǎng)期作業(yè)的失效預(yù)測(cè)
污染調(diào)查
EOS/ESD晶片失效
電路板制作問(wèn)題
找出不達(dá)標(biāo)的電路板：
利用電子顯微鏡掃描，和能量擴(kuò)散的X-光分析，判定一名電路板供應(yīng)商的表面涂層，并不符合客戶的落單要求。APL的分析支持廠家向供應(yīng)商退貨，返回現(xiàn)金，并堅(jiān)持日后交貨的電路板必須按要求涂層。
找出LED燈存在裂痕：
利用偏振光分析，發(fā)現(xiàn)一批LED燈存在嚴(yán)重裂痕，造成一臺(tái)OEM儀器屏幕上出現(xiàn)斷斷續(xù)續(xù)的燈光。APL的失效分析發(fā)現(xiàn)，這些裂痕早在這批LED交貨時(shí)已經(jīng)出現(xiàn)。憑著APL的分析，很快找出問(wèn)題，并舉證責(zé)任方，令客戶省掉開(kāi)支。
