PID(Potential Induced Degradation)意為電位誘發(fā)衰減測(cè)試，一些電站實(shí)際使用表明，光伏發(fā)電系統(tǒng)的系統(tǒng)電壓似乎存在對(duì)晶體硅電池組件有持續(xù)的“電位誘發(fā)衰減”效用，基于絲網(wǎng)印刷的晶體硅電池通過(guò)封裝材料(通常是EVA和玻璃的上表面)對(duì)組件邊框形成的回路所導(dǎo)致的漏電流，被確認(rèn)為是引起上述效應(yīng)的主要原因。近年來(lái)PID已經(jīng)成為國(guó)外買家投訴國(guó)內(nèi)組件質(zhì)量的重要因素之一，嚴(yán)重時(shí)候它可以引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個(gè)電站的功率輸出，國(guó)際上已經(jīng)許多企業(yè)對(duì)組件的PID現(xiàn)象進(jìn)行分析。
根據(jù)光伏學(xué)會(huì)柏林股份公司、TUV萊茵和VDE測(cè)試機(jī)構(gòu)和認(rèn)證協(xié)會(huì)共同的標(biāo)準(zhǔn)，阿特斯的光伏組件加1000V負(fù)壓，耐久性試驗(yàn)后組件性能仍高于98%以上。阿特斯首席執(zhí)行官瞿曉鏵表示：“測(cè)試為我們的客戶指引了方向，結(jié)果證明我們的產(chǎn)品品質(zhì)是可以信賴的。”
