NI將軟件設(shè)計(jì)的儀器用于電子測(cè)試
日期:
2013-09-10 13:48
2013 年 9月 美國國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）- NIWeek - 近日發(fā)布了數(shù)款基于NI LabVIEW可重配置I/O（RIO）架構(gòu)的新產(chǎn)品，為用戶提供靈活性，幫助他們應(yīng)對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的挑戰(zhàn)并降低總測(cè)試成本。
被測(cè)設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，工程師因而需要在降低成本的同時(shí)，采用新的戰(zhàn)略來保持競爭力，確保上市時(shí)間。NI測(cè)試系統(tǒng)主管Charles Schroeder說道。 LabVIEW RIO架構(gòu)基于平臺(tái)的方案，為工程師提供了取得成功必備的靈活、可擴(kuò)展的工具。
最重要的平臺(tái)更新當(dāng)屬新的儀器驅(qū)動(dòng)的 FPGA擴(kuò)展，它具備NI
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