NI將軟件設(shè)計(jì)的儀器用于電子測(cè)試
日期:
2013-09-10 13:48
關(guān)鍵。Hittite微波公司副總裁Gorkem Guven表示。 借助儀器驅(qū)動(dòng)的FPGA擴(kuò)展與LabVIEW編程體驗(yàn)，我們可以輕松利用FPGA來(lái)大大減少我們的測(cè)試時(shí)間，同時(shí)保留RF測(cè)試設(shè)備上所需的軟硬件功能。
另一個(gè)重要的平臺(tái)更新是在LabVIEW RIO架構(gòu)家族中增加了NI PXIe-7975R NI FlexRIO FPGA模塊，它提供了最新的Xilinx 7系列FPGA技術(shù)，用于自動(dòng)化測(cè)試與高性能的嵌入式應(yīng)用。 相比當(dāng)前的FPGA模塊，新的NI FlexRIO FPGA模塊將數(shù)據(jù)流帶寬增加一倍至1.6 GB/s，將板載DRAM擴(kuò)大四倍至2 GB。此外還有兩個(gè)新的NI FlexRIO適配器模塊發(fā)布：4.4 GHz的NI 5792接
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