NI參加2013年汽車測試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會
日期:
2013-10-15 10:42
美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）于2013年9月10日至12日參加在上海光大會展中心舉辦的2013年汽車測試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會。在此次汽車測試與質(zhì)量監(jiān)控博覽會上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車領(lǐng)域多項前端應用和解決方案。
NI公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車OEM與一級供應商所采用。因為具有領(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺，用戶可以創(chuàng)建適合多種應用的解決方案。目前，NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車載測試與記錄等幾
1/4
下一頁 上一頁 首頁 尾頁