NI參加2013年汽車測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)
日期:
2013-10-15 10:42
美國(guó)國(guó)家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI）于2013年9月10日至12日參加在上海光大會(huì)展中心舉辦的2013年汽車測(cè)試及質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)。在此次汽車測(cè)試與質(zhì)量監(jiān)控博覽會(huì)上面，NI聯(lián)合多家業(yè)內(nèi)資深的合作伙伴集中展示了在汽車領(lǐng)域多項(xiàng)前端應(yīng)用和解決方案。
NI公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車OEM與一級(jí)供應(yīng)商所采用。因?yàn)榫哂蓄I(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強(qiáng)大高效的LabVIEW平臺(tái)，用戶可以創(chuàng)建適合多種應(yīng)用的解決方案。目前，NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車終端測(cè)試、TEST Cell的測(cè)量與控制、硬件在環(huán)、車載測(cè)試與記錄等幾
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